광주과학기술원(GIST, 총장 임기철)은 화학과 임현섭 교수 연구팀이 차세대 반도체 소재가 제대로 합성되었는지를, 시료를 전혀 손상시키지 않고도 정확히 판별할 수 있는 비파괴 분석 기술을 개발했다고 밝혔다. 현재 반도체 산업의 주력 소재인 실리콘(Si)은 칩을 더 작게 만들수록 성능과 효율을 유지하기 어려워지는 한계가 있고, 전력 소모 증가 등으로 성능 향상에 물리적 제약에 직면해 있다. 이에 따라 원자 한 층 두께에서도 우수한 전기적·광학적 특성을 구현할 수 있는 이차원 반도체 소재가 ‘포스트 실리콘(Post-Silicon)’ 시대의 핵심 대안으로 주목받고 있다.

이번 연구는 GIST 화학과 임현섭 교수의 지도 아래 김도훈 석·박사통합과정생이 수행했으며, 과학기술정보통신부·한국연구재단 기초연구사업, 과학기술정보통신부 이노코어(InnoCORE) 사업의 지원을 받았다. 연구 결과는 국제학술지 《나노 레터스(Nano Letters)》에 2026년 1월 8일 온라인으로 게재됐다. 한편 GIST는 이번 연구 성과가 학술적 의의와 함께 산업적 응용 가능성까지 고려한 것으로, 기술이전 관련 협의는 기술사업화센터(hgmoon@gist.ac.kr)를 통해 진행할 수 있다고 밝혔다.

1. 논문명, 저자정보 - 저널명: Nano Letters (IF: 9.1 / 2025년 기준) - 논문명: Revisiting Dynamical Theory to Elucidate Friedel’s Law Breaking in Low-Energy Electron Diffraction as Strong Evidence of Unidirectional Growth of Monolayer 2H MoS2 - 저자 정보: 김도훈 (제1저자, GIST), 오주희 (공동저자, GIST), 안채현 (공동저자, GIST), 전준병 (공동저자, GIST), 주혜리 (공동저자, GIST), 임현섭 (교신저자, GIST, IBS 양자변환연구단)